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泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現(xiàn)異常準確的器件檢定，全面支持光通信標準、時域反射和 S 參數(shù)。DSA8300 數(shù)字采樣示波器為 155 Mb/s 至 100Gb/s 及更高速率的數(shù)據(jù)通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現(xiàn)異常準確的器件檢定，全面支持光通信標準、時域反射和 S 參數(shù)。DSA8300 數(shù)字采樣示波器為 155 Mb/s 至 100Gb/s 及更高速率的數(shù)據(jù)通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
泰克DSA8300數(shù)字采樣示波器
功能 | 優(yōu)勢 |
電模塊信號測量準確度： 超低系統(tǒng)抖動（典型 <100 fs） > 70GHz | <100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4´25) Gb/s）設備進行檢定，典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數(shù)據(jù)速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數(shù)據(jù)速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波）。 |
所有帶寬上系統(tǒng)噪聲業(yè)內最低： 600 µV 最大（450 µV 典型）@ 60 GHz 380 µV 最大（280 µV 典型）@ 30 GHz | 最DA程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。 |
單臺主機內最多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。 | 多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統(tǒng)的測試吞吐量。 |
光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光*性測試。 | 為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統(tǒng)，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網）和 100 Gb/s 以太網（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。 |
優(yōu)異的采集吞吐量，采樣率最高 300 kS/s。 | 通過優(yōu)異的系統(tǒng)吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。 |
能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。 | 遠程采樣頭最DA程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統(tǒng)的反嵌。 |
獨立的已校準通道相差校正。 | 雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的信號保真度。 |
