產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
IM3536LCR測試儀產(chǎn)品概述 DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的標(biāo)桿產(chǎn)品 ● 測量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測量時間：較快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測量 ● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量 ● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
IM3533LCR測試儀產(chǎn)品概述 應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動化測試領(lǐng)域的理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。 ● 內(nèi)置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測試時間
IM3523LCR測試儀產(chǎn)品概述 應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動化測試領(lǐng)域的理想選擇 ● 基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。 ● 內(nèi)置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測試時間
3511-50LCR測試儀產(chǎn)品概述 精巧，非常專業(yè)，5ms快速測量LCR ● 高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精度： ± 0.08% ● 內(nèi)置比較器
3506-10C測試儀產(chǎn)品概述 對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量 ● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復(fù)精度 ● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量 ● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
3504-60C測試儀產(chǎn)品概述 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
3504-50C測試儀產(chǎn)品概述 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
3504-40C測試儀產(chǎn)品概述 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
